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[发明专利]一种测试结果自动比对方法-CN202210984170.2在审
发明人：陈建;黄建;付琦;何漪柔 -专利权人：睿智合创（北京）科技有限公司
申请日： 2022-08-17 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供了一种测试结果自动比对方法，包括：针对测试案例进行分析，明确测试数据指标，确定案例预期结果；根据所述案例预期结果建立比对模型；获取所述测试案例的测试案例决策结果文件，并建立所述测试案例决策结果文件与所述比对模型之间的连接；通过所述连接读取所述测试案例决策结果文件中的案例测试数据，并利用所述比对模型将所述案例测试数据与所述案例预期结果进行比对，得到案例比对结果。本发明提出的一种测试结果自动比对方法，无需人为手动参与，自动将测试结果与案例预期结果进行比对，并且快速得到比对结果。
一种测试结果自动方法

[发明专利]电子装置及其测试模式启用方法-CN202011592262.3在审
发明人：刘则言;袁国元;张佑任 -专利权人：新唐科技股份有限公司
申请日： 2020-12-29 - 公布日： 2021-07-16 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供一种电子装置及其测试模式启用方法。电子装置包括多个外围组件、闪存、密钥比对电路及测试模式电路。闪存提供比对密钥。密钥比对电路用以比对比对密钥及进入密钥，以反应于比对结果提供测试进入信号。测试模式电路反应于测试进入信号测试这些外围组件。
电子装置及其测试模式启用方法

[发明专利]一种SQL注入测试覆盖率统计方法及系统-CN201810622000.3在审
发明人：张忠伟 -专利权人：郑州云海信息技术有限公司
申请日： 2018-06-15 - 公布日： 2018-11-20 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种SQL注入测试覆盖率统计方法及系统，包括：获取待测试URL、待测试请求以及待测试参数；根据所述待测试URL、待测试请求以及待测试参数建立比对数据库；获取测试URL、测试请求以及测试参数；用所述测试URL、测试请求以及测试参数与所述比对数据库进行比对；对所述比对数据库中比对相同结果进行标记；根据测试结束后所述比对数据库中的标记数据个数以及总数据个数确定测试覆盖率。本发明实施例中从Web应用中获取待测试的URL、请求以及参数，建立比对数据库作为实际测试项的比对标准，并与测试工具中实际测试使用的URL、请求以及参数进行比对，计算测试覆盖率，根据测试覆盖率的值确定此次测试的可靠等级，从而提高测试可靠性。
比对数据库测试测试覆盖率测试参数测试请求比对测试可靠性标记数据测试工具个数确定计算测试测试项统计覆盖率

[发明专利]数据比对装置、数据比对方法及芯片测试仪-CN202210334591.0在审
发明人：夏川;杜侃 -专利权人：西安紫光国芯半导体有限公司
申请日： 2022-03-30 - 公布日： 2022-07-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请涉及芯片测试技术领域。公开了一种数据比对装置、数据比对方法及芯片测试仪，该数据比对装置包括：数据比对模组，数据比对模组包括第一输入端、第二输入端和输出端；第二输入端用于连接外部设备，被配置为从外部设备接收期望数据；第一输入端用于连接芯片测试设备，芯片测试设备用于测试待测试芯片，并输出待测试芯片的测试数据，第一输入端被配置为从芯片测试设备接收测试数据；其中，响应于芯片测试设备输出测试数据，第一输入端接收测试数据，并将测试数据与期望数据进行比对，以得到数据比对结果。通过上述的数据比对装置，能够根据寄存模组存储的参数实时地比对测试数据和期望数据，保证芯片测试的实时性以及提高芯片测试效率。
数据装置方法芯片测试仪

[发明专利]一种业务比对测试系统-CN201810935755.9有效
发明人：赵程程;谢永志 -专利权人：郑州云海信息技术有限公司
申请日： 2018-08-16 - 公布日： 2021-08-03 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供一种业务比对测试系统，将测试用例按照功能用途进行分类，并将每个类别的测试用例按照预设的排列次序排列成测试模块，将每个测试模块设置模块编号；数据分析客户端获取需要测试的测试模块编号，将测试模块编号所对应的测试模块分别发送至第一比对客户端和第二比对客户端；第一比对客户端将比对结果反馈至数据分析客户端；第二比对客户端将比对结果反馈至数据分析客户端。系统可以执行多种类别，多个批次的测试用例，对用例结果自动进行比对，当结果不一致时，可以进行标识，并且能够通过第一比对客户端以及第二比对客户端交替测试，提高测试的准确度。
一种业务测试系统

[发明专利]一种软件比对测试方法及装置-CN202110810285.5在审
发明人：胡振波 -专利权人：北京中联国成科技有限公司
申请日： 2021-07-19 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种软件比对测试方法及装置。其中，该方法包括：获取目标软件信息；根据所述目标软件信息，生成目标比对参数；根据目标参考参数，对所述目标比对参数进行比对，得到比对结果；将所述比对结果进行输出。本发明解决了现有技术中的软件比对测试方法往往无法根据待测试软件的具体信息来定制化地获取需要比对的参数，而是无论测试什么样的软件都使用同一套固定的软件比对参数，减少了软件测试中的灵活度，也降低了软件测试的精准度的技术问题
一种软件测试方法装置

[发明专利]一种系统测试方法、装置-CN202111571308.8在审
发明人：王辽松 -专利权人：网联清算有限公司
申请日： 2021-12-21 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请公开了一种系统测试方法、装置及电子设备、存储介质。该方法由测试服务器执行，该方法包括：接收被测试系统的测试执行结果，并获取被测试系统对应的预期执行结果；确定测试执行结果对应的自适应比对策略；根据自适应比对策略，分别对测试执行结果和预期执行结果进行解析并将测试执行结果的解析结果和预期执行结果的解析结果进行比对，得到被测试系统的测试结果。本申请事先针对不同类型的测试执行结果定义了不同的自适应比对策略，能够对不同类型的测试执行结果自适应匹配相应的比对策略，进而可以满足差异化的比对需求，覆盖不同的比对场景，当出现新的测试执行结果类型时，增加新的比对策略即可
一种系统测试方法装置

[发明专利]一种测试数据的比对方法和装置-CN202010583221.1在审
发明人：高路丹 -专利权人：京东数字科技控股有限公司
申请日： 2020-06-23 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请涉及一种测试数据的比对方法和装置，其中，该方法包括：从测试页面上截取第一图像和第二图像，其中，所述测试页面用于接收输入的测试数据，所述第一图像用于展示所述测试页面接收到的第一测试数据，所述第二图像用于展示对所述第一测试数据执行保存操作后得到的第二测试数据；对所述第一图像和所述第二图像进行比对，得到比对结果，其中，所述比对结果用于指示第一测试数据与第二测试数据之间的差异；发送携带有所述比对结果的提示信息。本申请解决了对测试数据进行比对时比对效率较低的技术问题。
一种测试数据方法装置

[发明专利]测试软件的确定方法、装置、电子设备及存储介质-CN202211533072.3在审
发明人：王亚梦;王守军;张涛;李瑞 -专利权人：阿尔特汽车技术股份有限公司
申请日： 2022-12-01 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请提供了一种车辆测试软件的确定方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，该方法包括：将至少两种测试软件分别导入功能软件，以使功能软件基于每种测试软件对待测试控制算法进行测试，生成至少两个测试结果；其中，测试结果与测试软件一一对应；将至少两个测试结果分别与预设条件进行比对，生成至少两个比对结果；其中，比对结果与测试结果一一对应；在至少两个比对结果中确定测试结果符合预设条件的比对结果；基于比对结果确定测试软件解决了现有技术中，在存在多种测试软件的情况下，需要将多种测试软件分别下载到控制器中进行实体测试，从而浪费大量时间的技术问题。
测试软件确定方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种PLC芯片等级检测方法-CN202110893544.5在审
发明人：何祺昌;林棣棚 -专利权人：安捷芯科技有限公司
申请日： 2021-08-04 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本申请公开了一种PLC芯片等级检测方法，检测方法通过：首先获取各个通道的最大插损光谱曲线CH00nMAX、最小插损光谱曲线CH00nMIN以及平均插损光谱曲线CH00nAVG，然后在对应的光谱曲线中获取PB IL测试数据、PDW测试数据、1dB BW测试数据、3dB BW测试数据、AX测试数据，比对各通道的PB IL测试数据、PDW测试数据、1dB BW测试数据、3dB BW测试数据、AX测试数据数值大小，选出PB IL比对数据、PDW比对数据、1dB BW比对数据、3dB BW比对数据、AX比对数据及计算出IL unif比对数据，将各芯片比对数据与等级对比数据表中的各对比数据数值进行比对，从而判断芯片的等级，由于各类型芯片均具有上述的测试数据
一种 plc 芯片等级检测方法

[发明专利]测试报告获得方法、装置、终端设备以及存储介质-CN202011490035.X在审
发明人：李睿;陈兴;吴一凡 -专利权人：鹏城实验室
申请日： 2020-12-17 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开一种测试报告获得方法，所述方法包括以下步骤：获取目标软件的测试结果；将所述测试结果与目标测试结果进行比对，获得选定比对结果；基于所述选定比对结果和预设规则库，获得第一测试结论，其中，所述预设规则库包括多个比对结果和所述多个比对结果对应的测试结论；基于所述第一测试结论，获得第一测试报告。本发明还公开了一种测试报告获得装置、终端设备以及存储介质。本发明的获得测试报告的速度较快，测试报告的获得效率较高。
测试报告获得方法装置终端设备以及存储介质

[发明专利]一种晶圆测试结果比对方法和系统-CN201410225255.8有效
发明人：邵金辉 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2014-05-26 - 公布日： 2018-06-08 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明提供一种晶圆测试结果比对方法和系统，涉及半导体技术领域。该晶圆测试结果比对方法，包括对第一组晶圆测试结果与第二组晶圆测试结果进行文件格式解析的步骤以及对解析后的数据的晶圆角度和坐标是否匹配进行判断和调整的步骤，可以实现对晶圆测试结果的自动比对，因而可以提高比对的准确度和效率该晶圆测试结果比对系统，包括文件格式解析单元以及晶圆角度与坐标调整单元，可以实现对晶圆测试结果的自动比对，因而可以提高比对的准确度和效率。
晶圆测试比对结果比对文件格式自动比对准确度晶圆种晶解析半导体技术领域坐标调整单元解析单元匹配

[发明专利]一种接口测试结果的比对方法、装置、设备和存储介质-CN202110518099.4有效
发明人：李学超;刘畅;严顺良 -专利权人：建信金融科技有限责任公司
申请日： 2021-05-12 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种接口测试结果的比对方法、装置、设备及存储介质，涉及自动程序设计领域，该方法包括：根据接口自动化测试案例库中各接口自动化测试案例的前置筛选条件，通过第一测试环境的铺底数据，获取待测试数据，并根据待测试数据和所述接口自动化测试案例，构建接口请求报文；根据第一测试环境和第二测试环境，针对接口请求报文的响应结果，获取第一测试环境与第二测试环境的接口测试比对结果。本发明实施例提供的技术方案，实现了接口自动化测试以及接口测试结果的比对，提升了接口测试结果的比对效率，同时，基于响应报文和数据库记录的比对方式，实现了对接口测试结果的精细化比对。
一种接口测试结果方法装置设备存储介质

[发明专利]页面校验方法及装置-CN201710184199.1在审
发明人：周金剑 -专利权人：广州酷狗计算机科技有限公司
申请日： 2017-03-24 - 公布日： 2017-07-28 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明是关于一种页面校验方法及装置，属于软件测试领域。方法包括当测试用例执行完成后，获取预设数目的比对元素，每个比对元素至少包括一个预期页面元素，每个比对元素用于确定测试用例执行完成后得到的测试页面是否与预期页面一致；基于页面元素的至少一种查找方式，在测试页面上对预设数目的比对元素进行定位；若至少一种查找方式中任一种查找方式未定位到预设数目的比对元素，则测试页面校验失败；若至少一种查找方式中任一种查找方式定位到预设数目的比对元素，则测试页面校验成功。本发明在测试用例执行后，根据多个比对元素对测试页面进行校验，通过多种查找方式对比对元素定位，避免对测试页面校验的校验结果发生错误，提高了准确性。
页面校验方法装置

[发明专利]测试方法、装置、系统-CN202211197430.8在审
发明人：李鹏;杨硕;姚磊;杨戉;项军;刘国维 -专利权人：中电信数智科技有限公司
申请日： 2022-09-29 - 公布日： 2022-11-29 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请提供一种测试方法、装置、系统，属于计算机技术领域。测试方法，包括：获取预设的待测试API列表中待测试API的请求地址、请求参数以及对应的比对文件，所述比对文件用于检测所述待测试API；调用所述请求地址、所述请求参数对应的API，并获得调用结果；将所述调用结果与所述比对文件进行比对，得到测试结果。通过预设的待测试API列表，从而可以自动获取待测试API的请求地址、请求参数以及对应的比对文件，并对待测试API进行测试，可以自动完成预设待测试API列表中所有待测试API的测试，提高了API测试的效率
测试方法装置系统

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